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大视野外观检测机(160S)应用于:

A.蓝宝石衬底检测

Sapphire Wafer Defect Inspection

B.碳化硅检测

SIC Wafer Surface Defect Inspection

C.砷化镓检测

GaAs Wafer Defect Inspection

D.氮化镓检测

GaN Wafer Defect Inspection

E.钽酸锂检测

LT Wafer Defect Inspection

F.硅片检测

Silicon Wafer Defect Insection

G.方片及窗口片检测

 

 

 

可检查缺陷的种类:

A.划痕缺陷检测

B.坑洞缺陷检测

C.崩边缺陷检测

D.抛光不完全缺陷检测

E.晶界

F.脏污

 

 

 

对比Candela 检测结果:

Candela 检测对比验证,对于划痕检测,我司大视野检测结果优于 Candela

 

 

 

大视野优势:

完整大图显示,可全局呈现缺陷分布位置及真实影像,方便工程人员作线下讨论